更新时间:2024-06-06
X-4BII显微熔点仪产品特征1、仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定;2、带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。 1、仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定;2、带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。
X-4BII显微熔点仪
X-4BII显微熔点仪产品特征
1、仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定;
2、带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。
X-4BII显微熔点仪
X-4BII显微熔点仪产品特征
1、仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定;
2、带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。
X-4BII显微熔点仪技术参数
仪器型号 | X-4BII |
测量范围 | 室温~320 ℃ |
测量方法 | 目视 |
测量模式 | 毛细管法、热台法 |
最小示值 | 0.1℃ |
重复性 | ≤200℃ ±1℃ >200℃ ±2℃ |
观察方式 | 双目体视显微镜 |
放大镜倍数 | 40×-100×变倍 |
电源 | 220V±22V,50Hz±1Hz |
仪器尺寸 | 30mm×22mm×44mm |
仪器净重 | 4.5kg |