更新时间:2021-07-08
上海JDG-S2 数显立式光学计点和应用方向:是一采用量块或标准零件与试件相比较的方式来测量物体外形尺寸的仪器.主要用于五等精度量块,一级精度柱型规以及各种圆柱形、球形、线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量,亦可用来控制精密零件…
上海JDG-S2 数显立式光学计点:数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,生产过…
上海JDG-S2 数显立式光学计 产品参数
被测件大长度 | 200 mm |
直接测量范围 | 10mm |
小显示值 | 0.1 μm |
测量力 | (2±0.2) N |
示值变动性 | 0.1 μm |
大不准确度 | ±0.25 μm |
读数方式: | 数字显示 |
大测量误差 | ±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计 |
仪器体积 | 300×170×410 mm |
仪器重量 | 18 kg |
上海JDG-S2 数显立式光学计 成套件
1 | 可调带筋园台 | 4 | 平面测帽 Ф8 |
2 | 可调园平台 | 5 | 小球面测帽 |
3 | 平面测帽 Ф2 | 6 | 刃形测帽 |